薄膜厚度测定仪 EF-II

一、用途

EF-II 薄膜厚度测定仪，主要用于测定金属薄膜涂层的厚度，该仪器采用非接触式两次对焦的光学测量法，附以的电子对焦系统，使得测量的重复误差在 1-3μm 之间，利用 CCD 加监视器观察图像，比人眼观察更客观。该仪器使用方便、操作简单、测量误差小、精度高，广泛应用于电子工业、塑料、橡胶、机械等行业。

二.规格

1.物镜:20X、40X

2.总放大倍数：600X、1200X （ 480线CCD ）

3.工作距离：95mm

4.工作台：30 × 70mm

5、最大测量厚度： 2mm

6、重复测量误差：1-3μm

三．仪器的成套性  

1.主机：一台  

2.CCD 摄像头一